Je ne suis pas microscopiste, mais je me suis aussi posé la question de leur nouveau statut réglementaire. Pour les MEB, ils fonctionnent à une ddp< 30kV. En effet, l'image est créée à partir de l'analyse de l'interaction des e- à la surface de l'objet (rétrodiffusions, X etc..) Donc de trop fortes énergies sont nuisibles à la technique. Pour ce qui est des débits de dose, à de si faible énergie incidente, j’estime qu’on peut se passer de mesures car presque tout est atténué dans le capotage. Donc clairement, sauf cas très particulier, les MEB c'est de l'exempté.
Par contre pour les MET, c'est une autre histoire : on est de l'ordre des centaines de kV pour que les e- puissent traverser l'échantillon à analyser ... Donc c'est a minima déclaration, voir enregistrement si des modifications ont été effectuées. Avec tout ce qui va avec : CRP, vérifications, conformité à la décision ASN 2017DC591 (qui n'est clairement pas prévu pour ce genre d'équipement!), etc...